試験部門
信頼性試験の代行、解析業務受託
当社では、半導体メーカと共に開発途中
におけるデバイスの信頼性テスト支援、
およびテスト環境の提供を行っています。
環境試験
半田耐熱性試験
半田付け性試験
熱衝撃試験
温度サイクル試験
温湿度サイクル試験
プレッシャークッカー試験
静電気破壊試験
環境試験槽
環境試験槽
耐久性試験
高温動作試験
低温動作試験
高温高湿動作試験
高温バイアス試験
高温高湿バイアス試験
高温放置試験
高温高湿放置試験
低温放置試験
半導体部品の検査業務受託
当社では、各種半導体デバイスの検査
業務を代行しております。

検査業務
電気特性検査
外観検査
バーンイン試験
検査業務
copyright (c) 2007 Coper-Yamagata Co.,Ltd. All rights reserved.