| ◇ ベアチップハンドラー |
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◎ＩＧＢＴ、ＦＥＴ、ＳＢＤ、ＦＲＤのチップ、自動検査用ハンドラ
ウェハー供給またはトレイ供給
ウェハーサイズ；５インチまたは６インチ
トレイサイズ ；２インチ
チップサイズ ；3.0mm□〜9.5ｍｍ□または長方形
分類 良品、不良品の２分類
スループットタイム ３．０秒／個
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| ◇ COB詰め替え装置 |
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◎ウェハーリングに貼り付けられたＣＯＢ基板から個々にチップを剥離して専用トレイに収納する
供給リングセット数 ２０枚（最大）
排出パレットストック数 ２０枚（最大）
チップサイズ 4mm□〜12mm□
チップ厚 2mm程度まで
ウェハーリングサイズ ６インチ
スループットタイム ２．４秒以下／個
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| ◇ IGBTハンドラー |
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◎ＩＧＢＴのチップ、自動検査用ハンドラ
供給パレットセット数 ２０枚（最大）
排出パレットストック数 ２０枚（最大）
品種登録数 最大１０品種
分類 良品、不良品、再計測の3分類
スループットタイム 5秒／個
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| ◇ 静特性ハンドラ- |
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◎ＩＧＢＴモジュールの自動検査用ハンドラ
供給 前工程から自動供給
良品排出 後工程へ自動排出
不良排出 不良コンベアへ排出（満杯センサー付き）
判定 良品、不良品
スループットタイム 5秒／個
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| ◇ ＬＣＤ開閉試験機（Ⅱ） |
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◎据え置き型パソコンLCD部開閉試験機
検出項目 ： ヒンジかじり
ＬＣＤ自重落下
センサー ： ロードセル
開閉速度 1〜10sec
停止時間 1〜10sec
開閉角度 0°〜180°
負荷変動記録 グラフ表示
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| ◇ ＬＣＤ開閉試験機 |
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検出項目 ： ヒンジかじり
ＬＣＤ自重落下
センサー ： ロードセル
開閉速度 1〜10sec
停止時間 1〜10sec
開閉角度 0°〜180°
負荷変動記録 グラフ表示
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| ◇ ＰＣ押圧試験機 |
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負荷荷重 0〜50Ｋgf
荷重時間 0〜999sec
負荷精度 ±0.2Ｋgf
負荷センサー： ロードセル
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| ◇ 携帯電話機 開閉試験機 |
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対象ワーク
開閉式携帯電話機（表示部１８０°旋回タイプを含む）
開閉角度 ０°〜１８０°（途中停止可能）
開閉速度 Max５００[deg/ｓ]
旋回動作 任意の開閉位置で一旦停止し、
表示部を１８０°旋回する。
開閉回数 １〜９９９９９
ワークサイズ ：Max６０×１１０ｍｍ。
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| ◇ 携帯電話機 コネクタ挿抜試験機 |
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対象ワーク
携帯電話機（充電コネクタ、イヤホンコネクタ）
挿抜速度 Max５００[ｍｍ/ｓ]で任意に設定可能。
挿抜回数 １〜９９９９９９の間で任意に設定可能。
ワークサイズ Max６０×１１０ｍｍ。
測定荷重 0〜10N
負荷センサー： ロードセル |
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| その他、開発製品 |
◇ ＣＯＢパッケージ詰替え機
◇ マウントキャリアインサーター
◇ マウントキャリアリムーバー
◇ 水晶発振器ＣＩ自動検査機
◇ 打鍵耐久評価試験機
◇ モールド厚測定機
◇ 水晶デバイス計測システムネットワーク
（詳しくは、お気軽にお問合せください。） |
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